【新製品ニュース】ZEISS、半導体ラボでTEM試料作製を自動化する新しいFIB-SEM Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入 バルクから薄片化まで、8時間以内に10枚のラメラを自動作製
@Press | 2025年06月04日 ライフ

【新製品ニュース】ZEISS、半導体ラボでTEM試料作製を自動化する新しいFIB-SEM Crossbeam 550 Samplefabを日本市場に投入 バルクから薄片化まで、8時間以内に10枚のラメラを自動作製

カールツァイス株式会社(東京都千代田区麹町、ヴィンセント・マチュー社長)は、透過電子顕微鏡(TEM)...

@Press | Wed, 04 Jun 2025 18:49:33 +0900

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